簡要描述:近代科學技術的許多領域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測定光學參數,如:布儒斯特角法測介質膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。
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Product Category詳細介紹
產品特點:
規(guī)格與主要技術指標:
成套性:主機、電控系統(tǒng)、計算軟件
外形尺寸:680*390*320mm
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